方案
按技术分类
设计
安森美的High-Q™集成无源器件(IPD)工艺提供了高电阻率硅-铜工艺,是生产如平衡转换器(balun)、滤波器、耦合器,双工器等无源器件的理想平台,这些无源器件可用于便携、无线和射频应用。IPD 为射频系统封装提供了一个高性价比高的解决方案。原型产品设计支持共乘(shuttle)试制服务。IPD 工艺支持基于200毫米晶圆设备制造铜电感器、精密电容器和精密电阻器。我们也提供针对定制化应用的设计服务,以及完整的特性设计套件,用于布局、模拟和验证。
类别
数值
硅HRS衬底
1.5 kΩ∙cm
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MIM电容密度
0.62 F/µm²
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电阻器薄层电阻
9 Ω/square
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电感器薄层电阻
3.5 mΩ/square
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硅基氧化层厚度
5.6 µm
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MIM运行电压
20 V
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M1铝层厚度
2 µm
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MN铜层厚度
5 µm
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MN2铜层厚度
5 µm
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焊盘
焊线工艺,倒装芯片
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(25摄氏度下的典型值)
参数
数值
铜层厚度
5, 10 µm
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最小宽度
5 µm
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最大宽度
40 µm
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最小空间
3 µm
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最小内径
50 µm
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建议范围
1 - 50 nH
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最大Q值
25 - 45 nH
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参数
数值
最小宽度
15.75 µm
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最大宽度
450 µm
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最大面积
45 000 µm²
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建议范围
1 - 100 pF
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参数
数值
最小宽度
2 µm
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最小长度
9 µm
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电路图设计+布局布线:Cadence Viruoso,Agilent ADS
仿真:Ansoft HFSS,Agilent ADS
物理验证:Cadence Assura,Mentor Calibre
工艺设计套件PDK(参数化单元&模型): Cadence Virtuoso OA,Keysight ADS,NI AWR Environment V13
模板:ANSYS HFSS,Integrand EMX,Sonnet
Excel计算器